《科技》愛德萬測試SoC測試技術研討會 報名人數創高

《科技》愛德萬測試SoC測試技術研討會 報名人數創高

愛德萬測試爲服務廣大的客戶羣,每年定期舉辦系統單晶片測試研討會,除推出最新測試解決方案,並設置科技資訊站(Technical Kiosk)讓技術專家和與會嘉賓分享測試與應用經驗,10多年來屢獲產業客戶肯定,超過50家企業前來參與。

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愛德萬測試舉辦此國際化的研討會,歷年皆邀請國外技術專家親自出席,介紹最新測試解決方案。近2年受疫情影響改爲Hybrid混合方式進行,由國外技術專家預錄影片於現場播放,再以線上方式進行問答和互動。

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今年的技術研討會由臺灣愛德萬測試新任董事長暨總經理吳萬錕開場致歡迎詞,集團社長吉田芳明先生也錄製影片捎來問候與祝福。緊接着副總經理蘇勇鴻以豐厚的產業經驗分享半導體產業的市場趨勢與觀點分析。

當日下午場次的產品簡報主要涵蓋V93000系統單晶片測試系統各項應用,從針對行動處理器和HPC/AI應用的EXA Scale世代系統到最新的RF解決方案。會中亦提及電源管理IC解決方案、分享掃描與基於軟體測試的最新方法,以及支援此新方法的Link Scale通道卡。

至於科技資訊站介紹最新V93000 EXA Scale通道卡及多元使用案例,展示硬體與應用範例,讓測試發展更容易、有助客戶加快產品上市時程的最新軟體功能。吳萬錕對此感謝貴賓踊躍參與,期待2022年與產業菁英再聚首。

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